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您所在的位置:首頁>技術(shù)資料>光纜的低氣壓試驗與高溫壽命試驗

1光纜低氣壓試驗
低氣壓應(yīng)按照GJB 915A-1997方法105試驗條件C進(jìn)行。以正常使用狀態(tài)放置試樣,在低氣壓下保持至少1h。應(yīng)在試驗后測量光透射性能變化。

光纜按照上述試驗方法進(jìn)行試驗,試驗期間和試驗后,每根光纖的光透射性能變化應(yīng)不大于下表的規(guī)定值。

2光纜高溫壽命試驗
高溫壽命應(yīng)按GJB 915A-1997方法108對光纜試樣按上限貯存溫度或相關(guān)詳細(xì)規(guī)范規(guī)定溫度以及試驗條件B或C進(jìn)行試驗;應(yīng)在試驗前后測量試樣外徑,試驗后測量光透射性能變化,并在試驗后采用十倍放大鏡進(jìn)行外觀檢查。

光纜按照上述試驗方法進(jìn)行試驗,護(hù)套應(yīng)無軟化、表面損傷或識別標(biāo)志損壞;光纜外徑變化應(yīng)不大于10%;每根光纖的光透射性能變化應(yīng)不大于下表的規(guī)定值。

 

光纖類型

光透射性能變化允許值

機(jī)械試驗 dB

環(huán)境試驗 dB/Km

多模

0.5

0.5

單模

0.2

0.3

 

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